패밀리특허 검색결과
구분	특허	출원국	KIPRIS
등록	복수의 샘플들을 테스트하는 테스트 장치 및 그것의 동작 방법	대한민국
등록	다수의 전자소자 신뢰성 측정을 위한 간략화 된 측정 시스템 구성	미국