상세정보
등록 광대역 내전력 시험 시스템 및 시험 방법
- 출원번호
- 10-2006-0113479 (2006.11.16)
- 등록번호
- 10-0825744-0000 (2008.04.22)
- 출원국
- 대한민국
- 협약과제
- 초록
- 본 발명은 반도체 RF 수동부품의 신뢰성 있는 내전력 시험을 통해 수명을 예측하고, 가속수명시험의 가속조건이 성립하도록 정확한 온도를 유지하며 고장조건에 성립하는 시점에서 정확한 시간, 온도 그리고 주파수에 따른 전기적인 특성변화를 파악하여 가속수명모델에 적용하고 최적의 조건으로 수명을 예측하며, 차후 고장분석을 할 수 있는 광대역 내전력 시험 시스템 및 그 시험방법을 제공한다. 그 시험 시스템은 DUT(Device Under Test)의 전기적 특성을 분석하기 위하여 주파수 스윕(sweep)에 따른 지속파(Continuos Wave: CW) 신호를 발생시키고 DUT의 전기적 특성을 분석하는 네트워크 분석기; 지속파 신호를 인가받아 DUT로 입출력되는 신호의 전력을 모니터링하여 네트워크 분석기로 전달하는 광대역 내전력 테스팅(Broadband Power Durability Testing: BPDT) 모듈(module); DUT의 고온 스트레스 가속수명시험을 위한 고온 시험기; 및 시스템의 각 구성 장비를 제어하고 구성 장비로부터의 시험데이터를 분석하는 제어분석 컴퓨터;를 포함한다.
- KSP 제안 키워드
- Device Under Test, Power durability