ETRI-Knowledge Sharing Plaform

ENGLISH

성과물

특허 검색
구분 출원국
출원년도 ~ 키워드

상세정보

등록 응력 완화층을 포함하는 광 모듈

응력 완화층을 포함하는 광 모듈
이미지 확대
발명자
최광성, 홍주연, 조인귀, 문종태
출원번호
10-2007-0101820 (2007.10.10) KIPRIS
공개번호
10-2009-0036665 (2009.04.15)
등록번호
10-0923425-0000 (2009.10.19)
출원국
대한민국
협약과제
초록
본 발명은 광소자, 증폭기 등의 전자소자, 광화이버, 광학벤치(optical bench), 다층기판으로 이루어진 볼 그리드 어레이 패키지, 및 응력 완화층을 포함하는 광모듈에 관한 것으로, 다수의 기판 및 볼 그리드 어레이가 적층된 다층 기판 볼 그리드 어레이 패키지(ball grid array package); 상기 다층 기판 볼 그리드 어레이 패키지 상에 형성되는 응력 완화층; 상기 응력 완화층 상에 마련되는 광학 벤치; 상기 광학 벤치 상에 마련되는 광소자; 상기 광소자와 이격 거리를 두고 상기 광학 벤치 상에 마련되는 광화이버; 및 상기 광소자와 전기적으로 연결되어 상기 광소자로 전기 신호를 제공하는 증폭기를 포함한다. 전술한 구성에 따라, RF 신호가 전자 소자를 통해 광 소자인 VCSEL에 전달되어 광 신호로 바뀐 후 광 화이버의 한쪽 끝 단 45도 경사면에 전반사되어 광 화이버로 전달된다. 광소자가 포토 다이오드일 경우 광 화이버를 통해 전달된 광신호가 광 화이버의 한쪽 끝 단 45도 경사면에 전반사되어 포토다이오드로 전달되고 그 후에 전자 소자에 RF 신호로 전달된다. 이때 광 화이버를 지지하고 있는 광학 벤치(metal optical bench 또는 silicon optical bench)는 응력 완화층이 형성되어 있는 다층 회로 기판에 실장되어 있어 광 모듈 동작 중에 발생하는 열 혹은 열 주기 시험(thermal cycle test) 동안 발생하는 열 변형이 최소화되어 광 화이버와 광 소자 간의 광학 결합을 안정적으로 유지할 수 있다.
KSP 제안 키워드
Cycle test, Grid array, Silicon optical bench(SIOB), Thermal cycle test, ball grid array, thermal cycle