ETRI-Knowledge Sharing Plaform

ENGLISH

성과물

특허 검색
구분 출원국
출원년도 ~ 키워드

상세정보

등록 편광판과 고속푸리에변환을 이용한 나노선 소자용 고분해능 광학 현미경 시스템

편광판과 고속푸리에변환을 이용한 나노선 소자용 고분해능 광학 현미경 시스템
이미지 확대
발명자
김은경, 문승언, 박강호, 이홍열, 박종혁, 김종대, 김규태, 장도영, 박응석, 지현진
출원번호
07285276 (1995.11.01)
공개번호
09121679 (1997.05.13)
등록번호
4690379 (2011.02.25)
출원국
일본
협약과제
초록
(57)[要約][課題] 従来の菜果切断用指ハサミは切断刃の部分の摩耗が発生し、切れ味が低下するという不具合を解消すべく替刃方式の菜果切断用指ハサミを提供する。[解決手段] 人差指1に挿入し、野
KSP 제안 키워드
Fast Fourier, Fast Fourier transform, Fast Fourier transform method, Fourier transform method, High-resolution, Optical microscope, Transform method, fourier transform, nanowire device
패밀리
 
패밀리 특허 목록
구분 특허 출원국 KIPRIS
등록 편광판과 고속 푸리에 변환을 이용한 나노선 감지용 광학 현미경 시스템 대한민국 KIPRIS