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등록 회전체의 회전 특성 측정 방법 및 장치

회전체의 회전 특성 측정 방법 및 장치
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발명자
김종성, 김명규, 백성민, 정일권
출원번호
10-2011-0124582 (2011.11.25) KIPRIS
공개번호
10-2013-0058526 (2013.06.04)
등록번호
10-1706200-0000 (2017.02.07)
출원국
대한민국
협약과제
초록
회전체의 회전율, 회전축, 회전각과 같은 회전 특성을 측정하기 위한 방법 및 장치가 개시된다. 회전 특성 측정 방법은, 회전체의 영상으로부터 회전체 영역을 추출하는 단계, 추출한 회전체 영역의 명도에 기초하여 상기 회전체의 표면 패턴을 추출하는 단계 및 추출한 표면 패턴의 변화를 기반으로 상기 회전체의 회전 특성을 획득하는 단계를 포함한다. 따라서, 조명의 조도, 카메라의 감도 및 카메라의 노출 시간에 따른 회전체 표면 영역의 명도 값 변화에 관계없이 회전체의 회전율을 정확하게 측정할 수 있다.
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