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상세정보

등록 고차원 APSK 변조 방식을 위한 연판정 검출 장치 및 방법

고차원 APSK 변조 방식을 위한 연판정 검출 장치 및 방법
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발명자
이인기, 오덕길, 장매향, 김수영
출원번호
10-2012-0009876 (2012.01.31) KIPRIS
공개번호
10-2013-0088561 (2013.08.08)
등록번호
10-1935973-0000 (2018.12.31)
출원국
대한민국
협약과제
초록
고차원 APSK 변조 방식을 위한 연판정 검출 장치 및 방법을 제안한다. 본 발명의 실시예에 따른 연판정 검출 장치는 수신한 복소신호를 채널이득이 보상된 평가신호로 변환하고, 기설정된 각 비트에 대응하는 경계선들을 확인하고 경계선들과 평가신호 간의 거리를 계산해서 전수조사 없이 초기 연판정 비트 값을 계산하고, 초기 연판정 비트 값들에 채널이득을 반영해서 최종 연판정 비트 값들을 계산한다.
KSP 제안 키워드
high order, soft demapping