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등록 고에너지 입자 분석 장치 및 이를 이용한 분석 방법

고에너지 입자 분석 장치 및 이를 이용한 분석 방법
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발명자
정문연, 명남수, 이황운, 송동훈, 김승환, 신동호
출원번호
10-2012-0048689 (2012.05.08) KIPRIS
공개번호
10-2013-0125153 (2013.11.18)
등록번호
10-1975520-0000 (2019.04.29)
출원국
대한민국
협약과제
초록
고에너지 입자 분석 장치 및 이를 이용한 분석 방법이 제공된다. 이 분석 장치는 복수의 종들을 포함하는 가속된 고에너지 입자들과의 충돌에 의해 각각의 고유 파장을 갖는 광자들을 발생시키는 섬광체, 광자들을 평행하게 진행시키기 위한 평행 빔 전환부, 평행하게 진행되는 광자들이 일정한 각도로 입사되되, 광자들을 각각의 고유 파장에 따라 서로 다른 각도로 굴절시키는 회절격자 패널, 및 회절격자 패널로부터 서로 다른 각도로 굴절된 광자들이 공간적으로 서로 분리되어 도달되는 위치들에 배치되되, 광자들을 각각 검출하기 위한 복수의 감지부들을 포함한다.
KSP 제안 키워드
Analysis method, high energy
패밀리
 
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구분 특허 출원국 KIPRIS
등록 고에너지 입자 분석 장치 및 이를 이용한 분석 방법 미국