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등록 프로파일 기반의 부채널 분석 장치 및 방법

프로파일 기반의 부채널 분석 장치 및 방법
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발명자
김주한, 최용제, 이승광, 오경희, 김태성, 최두호, 조현숙, 강유성
출원번호
10-2012-0058684 (2012.05.31) KIPRIS
공개번호
10-2013-0134850 (2013.12.10)
등록번호
10-1869064-0000 (2018.06.12)
출원국
대한민국
협약과제
초록
본 발명에서는 부채널 분석 시스템에서 파형수집, 전처리, 분석에 이르는 부채널 분석의 각 과정을 프로세스로 만들고, 각 과정을 프로세스의 연결로 관리하는 프로파일을 구성하여, 각 프로세스에서 사용되는 파라미터와 프로세스의 동작 결과물인 각각의 파형을 쉽게 확인할 수 있도록 함으로써, 프로파일의 참조를 통해 파형수집, 전처리, 분석 등의 부채널 분석의 모든 과정을 쉽게 이해할 수 있도록 한다.
KSP 제안 키워드
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