상세정보
등록 유기전자소자의 보호층 결함 검출 방법 및 이를 이용한 유기전자소자의 제조방법
- 출원번호
- 10-2014-0036659 (2014.03.28) KIPRIS
- 공개번호
- 10-2015-0113387 (2015.10.08)
- 등록번호
- 10-2180216-0000 (2020.11.12)
- 출원국
- 대한민국
- 협약과제
- 13VB3500, AMOLED 박막봉지용 Non-ALD 방식 저결함, 고생산성 무기박막 Passivation 장비 개발, 황치선
- 초록
- 본 발명은 유기전자소자의 보호층에 발생한 결함을 보다 간단하고 신속하게 검출할 수 있는 방법에 관한 것으로, 기판 및 상기 기판 상에 적층된 유기물층, 전극층들, 및 보호층을 포함하는 유기전자소자를 제공하는 것; 상기 보호층에 상기 보호층 보다 유전상수가 높은 유체 화합물을 제공하는 것; 및 상기 유체 화합물이 제공된 상기 보호층 상에 전도체를 제공하여, 상기 보호층의 전기용량의 변화량을 측정하는 것을 포함하는 유기전자소자의 보호층 결함 검출 방법에 관한 것이다.
- KSP 제안 키워드
- electronic devices, organic electronic, organic electronic devices, passivation layer