ETRI-Knowledge Sharing Plaform

ENGLISH

성과물

논문 검색
구분 SCI
연도 ~ 키워드

상세정보

학술대회 고온 저장 시험에 의한 GaN HEMT 소자의 특성 변화
Cited - time in scopus Download 1 time Share share facebook twitter linkedin kakaostory
저자
이종민, 민병규, 주철원, 임종원, 안호균, 문재경, 남은수
발행일
201302
출처
한국 반도체 학술 대회 (KCS) 2013, pp.1-2
협약과제
12VB2900, SW기반 디지털 무선통신용 핵심 모듈 및 트랜시버 개발, 윤형섭
KSP 제안 키워드
GaN HEMT