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Conference Paper 고온 저장 시험에 의한 GaN HEMT 소자의 특성 변화
Cited - time in scopus Share share facebook twitter linkedin kakaostory
Authors
이종민, 민병규, 주철원, 임종원, 안호균, 문재경, 남은수
Issue Date
2013-02
Citation
한국 반도체 학술 대회 (KCS) 2013, pp.1-2
Language
Korean
Type
Conference Paper
KSP Keywords
GaN HEMT