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Conference Paper GaN on SiC HEMT 소자의 후면 비아홀 공정의 고장 분석
Cited - time in scopus Share share facebook twitter linkedin kakaostory
Authors
민병규, 윤형섭, 김해천, 안호균, 전병철, 정연국, 임종원
Issue Date
2014-06
Citation
대한전자공학회 종합 학술 대회 (하계) 2014, pp.1973-1974
Publisher
대한전자공학회
Language
Korean
Type
Conference Paper
KSP Keywords
GaN on SiC