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Type SCI
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Journal Article SA 기법 응용 NoC 기반 SoC 테스트 시간 감소 방법
Cited - time in scopus Share share facebook twitter linkedin kakaostory
Authors
안진호, 김홍식, 김현진, 박영호, 강성호
Issue Date
2008-02
Citation
전자공학회논문지 SD, v.45, no.2, pp.93-100
ISSN
1229-6368
Publisher
대한전자공학회 (IEEK)
Language
Korean
Type
Journal Article
Abstract
본 논문에서는 NoC 기반 SoC의 테스트 시간을 감소시키기 위하여 NoC를 TAM으로 재활용하는 구조를 바탕으로 하는 새로운 형태의 스케쥴링 알고리즘을 제안한다. 제안한 방식에서는 기존 연구된 NoC 테스트 플랫폼을 사용하여 스케쥴링 문제를 rectangle packing 문제로 변환하고 이를 simulated annealing(SA) 기법을 적용하여 향상된 스케쥴링 결과를 유도한다. ITC'02 벤치회로를 이용한 실험 결과 제안한 방법이 기존 방법에 비해 최대 2.8%까지 테스트 시간을 줄일 수 있음을 확인하였다.
KSP Keywords
Rectangle packing, Simulated Annealing(SA)