14PB4700, CIGS 박막 태양전지 구조상의 Cd-free 버퍼층에 손상을 주지 않는 TCO 증착 기술 개발,
정용덕
초록
For better understanding of the structural property of polycrystalline tetragonal Cu(In,Ga)Se2 (CIGS) thin films grown on soda-lime glass, it is necessary to characterize the [220]- and [204]-oriented textures clearly that are related to the different physical properties. However, the distinction between the [220]- and [204]-oriented textures is very difficult because of their nearly identical plane spacings and atomic arrangements. Using X-ray diffraction techniques of high resolution 罐-2罐 scanning and reciprocal space mapping, we distinguished the [220]- and [204]-oriented textures of CIGS films and observed that the behaviors of [220] and [204] textures independently depended on both substrate nature and Na presence. We report the Na- and substrate-related dependence of the physical properties of the CIGS film was attributed to the independent growth behaviors of the [220] and [204] textures in the CIGS.
KSP 제안 키워드
CIGS film, Growth behavior, High-resolution, Na incorporation, Physical Properties, Reciprocal space mapping, Soda lime glass(SLG), X-ray diffraction techniques, oriented textures, structural properties, thin film(TF)
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<출처표시방법 안내> 작성자, 저작물명, 출처, 권호, 출판년도, 이용조건 [예시1] 김진미 외, "매니코어 기반 고성능 컴퓨팅을 지원하는 경량커널 동향", 전자통신동향분석, 32권 4호, 2017, 공공누리 제4유형 [예시2] 심진보 외, "제4차 산업 혁명과 ICT - 제4차 산업 혁명 선도를 위한 IDX 추진 전략", ETRI Insight, 2017, 공공누리 제 4유형
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