We investigate the hopping conduction and random telegraph signal caused by various species of interface charge scatterers in a MoS2 multilayer field-effect transistor. The temperature dependence of the channel resistivity shows that at low temperatures and low carrier densities the carrier transport is via Mott variable range hopping with a hopping length changing from 41 to 80 nm. The hopping conduction was due to electron tunneling through localized band tail states formed by the scatterers located in the vicinity of the MoS2 layer. In the temperature range of 40-70 K, we observed random telegraph signal (RTS) that is caused by the capture and emission of a carrier by the interface traps that are located away from the layer. These traps form strong potential that interact with the layer and change the potential profile of the electron system. The characteristics of RTS depend strongly on gate bias and temperature, as well as the application of a magnetic field.
KSP 제안 키워드
Band tail, Carrier density, Field-effect transistors(FETs), Low temperature(LT), Magnetic field(MF), Mott variable range hopping, Multilayer MoS2, Potential profiles, Random telegraph signal, Temperature range, carrier transport
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<출처표시방법 안내> 작성자, 저작물명, 출처, 권호, 출판년도, 이용조건 [예시1] 김진미 외, "매니코어 기반 고성능 컴퓨팅을 지원하는 경량커널 동향", 전자통신동향분석, 32권 4호, 2017, 공공누리 제4유형 [예시2] 심진보 외, "제4차 산업 혁명과 ICT - 제4차 산업 혁명 선도를 위한 IDX 추진 전략", ETRI Insight, 2017, 공공누리 제 4유형
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