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Conference Paper 양산라인 실시간 품질 검사를 위한 딥러닝 기반 엣지컴퓨팅 비전 검사 장치
Cited - time in scopus Share share facebook twitter linkedin kakaostory
Authors
김량수, 유학, 김근용, 김성창
Issue Date
2021-09
Citation
한국 인공지능 학술대회 2021, pp.1-2
Publisher
한국통신학회
Language
Korean
Type
Conference Paper