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학술대회 Mechanisms of Device Degradation Induced by Proton Irradiation in the GaN-based MIS-HEMTs
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저자
장성재, 정현욱, 최일규, 김도현, 노윤섭, 이상흥, 김성일, 안호균, 임종원, 김동석, 배영호
발행일
202211
출처
International Conference on Accelerators and Beam Utilizations (ICABU) 2022, pp.45-45
협약과제
22JU1200, 질화갈륨 반도체를 사용한 위성통신용 내방사선 송수신 MMIC 국산화 기술 개발, 장성재
KSP 제안 키워드
GaN-Based, Proton Irradiation, device degradation