Subjects : Device Testing
| Type | Year | Title | Cited | Download |
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| Status | Year | Patent Name | Country | Family Pat. | KIPRIS |
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| Registered | 2013 | 복수의 샘플들을 테스트하는 테스트 장치 및 그것의 동작 방법 | KOREA |
| Type | Year | Research Project | Primary Investigator | Download |
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