주제어 : Density of trap states
구분 | 연도 | 논문 | 피인용 | 원문 |
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학술지 | 2009 | Comparative Study of Electrical Instabilities in Top-Gate InGaZnO thin Film Transistors with Al2O3 and Al2O3/SiNx Gate Dielectrics 이정민 Applied Physics Letters, v.94 no.22, pp.1-4 | 105 | 원문 |
구분 | 출원 | 특허 | 출원국 | 패밀리 | KIPRIS |
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구분 | 연도 | 보고서 | 책임자 | 원문 |
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