주제어 : Automated inspection system
구분 | 연도 | 논문 | 피인용 | 원문 |
---|---|---|---|---|
학술대회 | 2005 | The Detection of Curve-type Defects in the TFT-LCD Panels with Machine Vision 김우섭 TENCON 2005, pp.1-5 | 1 | 원문 |
구분 | 출원 | 특허 | 출원국 | 패밀리 | KIPRIS |
---|---|---|---|---|---|
검색결과가 없습니다. |
구분 | 연도 | 보고서 | 책임자 | 원문 |
---|---|---|---|---|
검색결과가 없습니다. |