주제어 : Fowler-Nordheim (F-N) stress
구분 | 연도 | 논문 | 피인용 | 원문 |
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학술지 | 2003 | 1/f noise in Si/sub 0.8/Ge/sub 0.2/ pMOSFETs under Fowler-Nordheim stress 송영주 IEEE Transactions on Electron Devices, v.50 no.4, pp.1152-1156 | 12 | 원문 |
구분 | 출원 | 특허 | 출원국 | 패밀리 | KIPRIS |
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구분 | 연도 | 보고서 | 책임자 | 원문 |
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