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Registered RFID 미들웨어의 성능 테스트 장치 및 방법
- Application No.
- 10-2006-0015681 (2006.02.17) KIPRIS
- Publication No.
- 10-2007-0057598 (2007.06.07)
- Registration No.
- 10-0789917-0000 (2007.12.21)
- Country
- KOREA
- Project Code
- 05MD1300, Infrastructure Estabilishment of RFID/USN Technologies, Nae-Soo Kim
- Abstract
- 1. 청구범위에 기재된 발명이 속한 기술분야본 발명은 RFID 미들웨어의 성능 테스트 장치 및 방법에 관한 것임.2. 발명이 해결하려고 하는 기술적 과제본 발명은 가상리더를 통해 가상의 태그 데이터를 발생시켜 RFID 미들웨어의 부하정도를 측정하고, 가상의 응용시스템으로부터 태그 데이터에 대한 요청을 발생시켜 요청시간과 결과가 전달되는 시간의 차이를 측정하여 RFID 미들웨어의 성능을 테스트하는, RFID 미들웨어의 성능 테스트 장치 및 방법을 제공하는데 그 목적이 있음.3. 발명의 해결방법의 요지본 발명은, RFID 미들웨어의 성능을 측정하는 장치에 있어서, 태그데이터의 제공방식을 정의한 정보(이하 "태그데이터 제공정보"라 함) 및 태그데이터 처리결과의 요청방식을 정의한 정보(이하 "미들웨어 요청정보"라 함)를 사용자로부터 입력받기 위한 사용자 인터페이스부; 상기 태그데이터 제공정보에 따라 태그데이터를 생성하여 상기 RFID 미들웨어로 전송하기 위한 가상 리더; 상기 미들웨어 요청정보에 따라 상기 RFID 미들웨어로 상기 태그데이터 처리결과를 요청하고 응답받기 위한 가상 응용시스템; 및 상기 가상 리더로부터 전송된 태그데이터에 대한 정보를 확인하여 상기 RFID 미들웨어의 부하를 측정하고, 상기 가상 응용시스템에 의해 확인된 상기 RFID 미들웨어의 태그데이터 처리결과에 대한 요청시간 및 응답시간을 이용하여 상기 RFID 미들웨어에 의한 태그데이터 처리시간을 측정하기 위한 제어부를 포함함.4. 발명의 중요한 용도본 발명은 RFID 미들웨어의 성능 테스트 장치 및 방법등에 이용됨.