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Registered THERMAL CONDUCTIVITY MEARSURING DEVICE AND MEASURING METHOD THEREOF
- Inventors
- Hyun Younghoon, Park Young Sam, Jang Moon Gyu, Taehyoung Zyung
- Application No.
- 10-2012-0117228 (2012.10.22) KIPRIS
- Publication No.
- 10-2014-0005074 (2014.01.14)
- Registration No.
- 10-1889818-0000 (2018.08.13)
- Country
- KOREA
- Project Code
- 11ZE1100, A Creative Research on ETRI R&DB System and Seed Project for enhancing ETRI Capability, Jee Kyoung Yong
- Abstract
- 본 발명은 열전도도 측정 장치 및 그 측정 방법에 관한 것이다. 본 발명에 의한 열전도도 측정 장치는 시료의 일단과 연결되고, 열원으로부터 열을 제공받는 제 1 구조체, 상기 시료의 타단과 연결되는 제 2 구조체, 상기 제 1 구조체와 연결되어 상기 제 1 구조체를 지지하는 제 1 스테이지, 상기 제 2 구조체와 연결되어 상기 제 2 구조체를 지지하는 제 2 스테이지, 상기 제 1 및 제 2 스테이지 사이에 연결되는 연결부 및 상기 제 1 및 제 2 구조체와 상기 제 1 및 제 2 스테이지의 온도를 측정하는 측정부를 포함하고, 상기 측정부는 상기 측정된 제 1 및 제 2 구조체와 상기 제 1 및 제 2 스테이지의 온도 및 상기 열원으로부터 제공된 열의 양을 이용하여 상기 시료의 열전도도를 계산한다. 본 발명의 열전도도 측정 장치 및 그 측정 방법은 측정 환경을 고려하여 스테이지에서 방출되는 열흐름에 의한 스테이지의 온도 변화를 보정하므로, 측정의 신뢰성이 향상된다.
- KSP Keywords
- Measuring method, thermal conductivity
- Family
| Status | Patent | Country | KIPRIS |
|---|---|---|---|
| Registered | THERMAL CONDUCTIVITY MEASURING DEVICE | UNITED STATES | |
| Registered | THERMAL CONDUCTIVITY MEASURING DEVICE AND METHOD OF MEASURING THE THERMAL CONDUCTIVITY | UNITED STATES | |
| Registered | THERMAL CONDUCTIVITY MEASURING DEVICE AND METHOD OF MEASURING THE THERMAL CONDUCTIVITY | UNITED STATES |