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상세정보

등록 저전압 고이득 고속 광 검출기 및 그의 제조방법

저전압 고이득 고속 광 검출기 및 그의 제조방법
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발명자
김경옥, 김상훈, 김인규, 장기석, 김선애, 오진혁
출원번호
13949081 (2013.07.23)
공개번호
20140048772 (2014.02.20)
등록번호
9171996 (2015.10.27)
출원국
미국
협약과제
12VB1600, 실리콘 나노포토닉스 기반 차세대 컴퓨터 칩기술, 김경옥
초록
Provided is a silicon-wafer-based germanium semiconductor photodetector configured to be able to provide properties of high gain, high sensitivity, and high speed, at a relatively low voltage. A germanium-based carrier multiplication layer (e.g., a single germanium layer or a germanium and silicon superlattice layer) may be provided on a silicon wafer, and a germanium charge layer may be provided thereon, a germanium absorption layer may be provided on the charge layer, and a polysilicon second contact layer may be provided on the absorption layer. The absorption layer may be configured to include germanium quantum dots or wires.