ETRI-Knowledge Sharing Plaform

ENGLISH

성과물

특허 검색
구분 출원국
출원년도 ~ 키워드

상세정보

등록 회전체의 회전 특성 측정 방법 및 장치

회전체의 회전 특성 측정 방법 및 장치
이미지 확대
발명자
김종성, 김명규, 백성민, 정일권
출원번호
10-2012-0143997 (2012.12.11) KIPRIS
공개번호
10-2014-0075545 (2014.06.19)
등록번호
10-1891980-0000 (2018.08.21)
출원국
대한민국
협약과제
12CT1700, 스포츠 아케이드 게임을 위한 회전궤적인식 기술, 김명규
초록
회전체의 회전 특성 측정 방법 및 장치가 개시된다. 본 발명의 일 실시예에 따른 회전체의 회전 특성 측정 방법은, 측정 장치의 내부 변수에 대한 보정 정보 및 외부 변수에 대한 보정 정보를 기반으로 보정 행렬을 생성하는 단계, 서로 다른 배율에 따라 회전체에 대한 복수의 회전 영상을 획득하는 단계 및 보정 행렬 및 복수의 회전 영상의 위치 정보를 기반으로 회전체의 기준 위치들을 생성하는 단계를 포함한다. 본 발명에 의하면, 회전체의 회전 특성을 정확하게 측정할 수 있다.