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Registered 전자소자 신뢰성 측정 시스템 및 그에 따른 신뢰성 측정 방법
- Application No.
- 10-2012-0139737 (2012.12.04) KIPRIS
- Publication No.
- 10-2014-0072431 (2014.06.13)
- Registration No.
- 10-1928815-0000 (2018.12.07)
- Country
- KOREA
- Project Code
- 12VB1500, Energy Efficient Power Semiconductor Technology for Next Generation Data Center, Eun Soo Nam
- Abstract
- 본 발명은 저비용 고효율의 전자 소자 신뢰성 측정 시스템을 개시한다. 본 발명에서 따르면, 복수의 전자 소자 샘플들의 입력단에 전원을 인가하기 위한 단일의 입력 전원 소스와, 상기 복수의 전자 소자 샘플들의 출력단에 전원을 인가하기 위한 단일의 출력 전원 소스가 제공된다. 또한, 상기 복수의 전자 소자 샘플들의 개수에 대응되는 제1 스위치들을 가지며, 상기 입력 전원 소스와 상기 입력단 간에 설치되어 상기 제1 스위치들이 입력 전원의 인가를 위해 선택적으로 스위칭되는 입력 스위치; 및 상기 복수의 전자 소자 샘플들의 개수에 대응되는 제2 스위치들을 가지며, 상기 출력 전원 소스와 상기 출력단 간에 설치되어 상기 제2 스위치들이 출력 전원의 인가를 위해 선택적으로 스위칭되는 출력 스위치가 제공된다.
- KSP Keywords
- Device reliability, electronic devices, measurement system, reliability measurement