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등록 입자 빔의 깊이 프로파일 측정방법

입자 빔의 깊이 프로파일 측정방법
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발명자
신동호, 정문연, 김승환
출원번호
10-2017-0153300 (2017.11.16) KIPRIS
공개번호
10-2018-0064973 (2018.06.15)
등록번호
10-2450680-0000 (2022.09.29)
출원국
대한민국
협약과제
16ZC1800, 고에너지 즉발 감마선 측정 기반 입자빔 비정 결정 기술 개발, 김승환
초록
본 발명은 입자 빔 깊이 프로파일을 측정 방법을 개시한다. 그의 측정 방법은, 인체의 청각 기관들 내에 제 1 방향으로 제 1 센서들을 제공하는 단계와, 상기 인체의 정수리와 구강 내에 상기 제 1 방향과 교차하는 제 2 방향으로 제 2 센서들을 제공하는 단계와, 상기 인체의 머리 내에 입자 빔을 제공하는 단계와, 상기 입자 빔에 의해 생성된 음향 신호를 상기 제 1 및 제 2 센서들을 통해 검출하는 단계와, 상기 음향 신호로부터 상기 머리 내에서의 상기 입자 빔의 브래그 피크 위치에 대응되는 상기 입자 빔의 깊이 프로파일을 계산하는 단계를 포함한다.
KSP 제안 키워드
Depth profile, Measuring depth, Particle beams