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Detail
Registered method for measuring depth profile of particle beam
- Inventors
- Dong-Ho Shin, Jung Moon Youn, Seunghwan Kim
- Application No.
- 10-2017-0153300 (2017.11.16) KIPRIS
- Publication No.
- 10-2018-0064973 (2018.06.15)
- Registration No.
- 10-2450680-0000 (2022.09.29)
- Country
- KOREA
- Project Code
- 16ZC1800, Development of Particle Beam Monitoring System for Particle Therapy, Seunghwan Kim
- Abstract
- 본 발명은 입자 빔 깊이 프로파일을 측정 방법을 개시한다. 그의 측정 방법은, 인체의 청각 기관들 내에 제 1 방향으로 제 1 센서들을 제공하는 단계와, 상기 인체의 정수리와 구강 내에 상기 제 1 방향과 교차하는 제 2 방향으로 제 2 센서들을 제공하는 단계와, 상기 인체의 머리 내에 입자 빔을 제공하는 단계와, 상기 입자 빔에 의해 생성된 음향 신호를 상기 제 1 및 제 2 센서들을 통해 검출하는 단계와, 상기 음향 신호로부터 상기 머리 내에서의 상기 입자 빔의 브래그 피크 위치에 대응되는 상기 입자 빔의 깊이 프로파일을 계산하는 단계를 포함한다.
- KSP Keywords
- Depth profile, Measuring depth, Particle beams