ETRI-Knowledge Sharing Plaform

KOREAN
특허 검색
Status Country
Year ~ Keyword

Detail

Registered 입자 빔의 깊이 프로파일 측정방법

입자 빔의 깊이 프로파일 측정방법
이미지 확대
Inventors
신동호, 정문연, 김승환
Application No.
10-2017-0153300 (2017.11.16) KIPRIS
Publication No.
10-2018-0064973 (2018.06.15)
Registration No.
10-2450680-0000 (2022.09.29)
Country
KOREA
Project Code
16ZC1800, Development of Particle Beam Monitoring System for Particle Therapy, Seunghwan Kim
Abstract
본 발명은 입자 빔 깊이 프로파일을 측정 방법을 개시한다. 그의 측정 방법은, 인체의 청각 기관들 내에 제 1 방향으로 제 1 센서들을 제공하는 단계와, 상기 인체의 정수리와 구강 내에 상기 제 1 방향과 교차하는 제 2 방향으로 제 2 센서들을 제공하는 단계와, 상기 인체의 머리 내에 입자 빔을 제공하는 단계와, 상기 입자 빔에 의해 생성된 음향 신호를 상기 제 1 및 제 2 센서들을 통해 검출하는 단계와, 상기 음향 신호로부터 상기 머리 내에서의 상기 입자 빔의 브래그 피크 위치에 대응되는 상기 입자 빔의 깊이 프로파일을 계산하는 단계를 포함한다.
KSP Keywords
Depth profile, Measuring depth, Particle beams