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Registered CALIBRATION DEVICE AND CALIBRATION METHOD FOR CALIBRATING 3 DIMENSION IMAGING EXAMINATION DEVICE

3차원 영상 검사 장비의 교정 장치 및 교정 방법
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Inventors
Lee Sooyeul, Choi Jang Hwan
Application No.
10-2017-0093772 (2017.07.24) KIPRIS
Publication No.
10-2019-0011156 (2019.02.01)
Registration No.
10-2385668-0000 (2022.04.07)
Country
KOREA
Abstract
3차원 영상 검사 장비의 교정 장치는 제1 패턴으로 배열된 제1 비드들을 포함하는 제1 비드 그룹, 및 제1 패턴과 상이한 제2 패턴으로 배열된 제2 비드들을 포함하는 제2 비드 그룹을 포함하되, 제1 및 제2 비드 그룹들은 서로 상이한 교차율(Cross Ratio)들 또는 서로 상이한 부분 비율(Segment Ratio)들을 갖고, 제1 비드들은 일렬로 배열되고, 제2 비드들은 일렬로 배열된다.
KSP Keywords
3 dimension, Calibration device, Calibration method, Cross-ratio
Family
 
패밀리 특허 목록
Status Patent Country KIPRIS
Registered CALIBRATION DEVICE AND METHOD FOR CALIBRATING THREE-DIMENSIONAL IMAGING EQUIPMENT UNITED STATES