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Registered METHOD AND SYSTEM FOR DIAGNOSING ABNORMALITY OF A PLURALITY OF APPARATUS BASED ON SEQUENTIAL LEARNING
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METHOD AND SYSTEM FOR DIAGNOSING ABNORMALITY OF A PLURALITY OF APPARATUS BASED ON SEQUENTIAL LEARNING
- Inventors
- Kim Nack Woo, Lee Hyun Yong, Park Sangjun, Lee Byung-Tak, Lee Jungi
- Application No.
- 10-2020-0092613 (2020.07.24) KIPRIS
- Publication No.
- 10-2022-0013256 (2022.02.04)
- Registration No.
- 10-2497586-0000 (2023.02.03)
- Country
- KOREA
- Project Code
- 20ZK1100, Honam region regional industry-based ICT convergence technology advancement support project, Lee Gil Haeng
- Abstract
- 순차학습 기법에 기초하여 복수의 진단대상 장치의 이상 여부를 진단하는 방법이 제공된다. 상기 방법은 상기 복수의 진단대상 장치에 대한 센싱 데이터를 획득하는 단계; 상기 센싱 데이터에 기반하여 상기 복수의 진단대상 장치의 이상 여부를 예측 진단하는 이상진단 예측모델로부터 상기 복수의 진단대상 장치 중 적어도 하나에 대한 이상진단 발생 여부를 예측하는 단계; 상기 이상진단 발생이 예측된 진단대상 장치에 대하여 각각의 식별정보로 구별하여 상기 이상진단 발생 횟수를 누적 카운팅하는 단계; 상기 누적 카운팅된 결과값을 가중치로 적용하여 상기 복수의 진단대상 장치에 대한 점검 순서를 정렬하는 단계; 및 상기 정렬된 점검 순서에 기반하여 정밀 진단 모델을 통해 상기 복수의 진단대상 장치의 이상 여부를 정밀 진단하는 단계를 포함한다.
- KSP Keywords
- Sequential Learning