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등록 순차학습 기법에 기초하여 복수의 진단대상 장치의 이상 여부를 진단하는 방법 및 시스템

순차학습 기법에 기초하여 복수의 진단대상 장치의 이상 여부를 진단하는 방법 및 시스템
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발명자
김낙우, 박상준, 이준기, 이병탁, 이현용
출원번호
10-2020-0092613 (2020.07.24) KIPRIS
공개번호
10-2022-0013256 (2022.02.04)
등록번호
10-2497586-0000 (2023.02.03)
출원국
대한민국
협약과제
20ZK1100, 호남권 지역산업 기반 ICT 융합기술 고도화 지원사업, 이길행
초록
순차학습 기법에 기초하여 복수의 진단대상 장치의 이상 여부를 진단하는 방법이 제공된다. 상기 방법은 상기 복수의 진단대상 장치에 대한 센싱 데이터를 획득하는 단계; 상기 센싱 데이터에 기반하여 상기 복수의 진단대상 장치의 이상 여부를 예측 진단하는 이상진단 예측모델로부터 상기 복수의 진단대상 장치 중 적어도 하나에 대한 이상진단 발생 여부를 예측하는 단계; 상기 이상진단 발생이 예측된 진단대상 장치에 대하여 각각의 식별정보로 구별하여 상기 이상진단 발생 횟수를 누적 카운팅하는 단계; 상기 누적 카운팅된 결과값을 가중치로 적용하여 상기 복수의 진단대상 장치에 대한 점검 순서를 정렬하는 단계; 및 상기 정렬된 점검 순서에 기반하여 정밀 진단 모델을 통해 상기 복수의 진단대상 장치의 이상 여부를 정밀 진단하는 단계를 포함한다.
KSP 제안 키워드
Sequential Learning