Registered
양자 진단 회로 및 그것의 양자 특성 진단 방법
- Inventors
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전성익, 고광원, 김강호, 김창대, 김태훈
- Application No.
- 2020-0179529 (2020.12.21)
- Publication No.
- 10-2022-0089757 (2022.06.29)
- Registration No.
- 2799607 (2025.04.18)
- Country
- KOREA
- Project Code
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20ZS1300, Research on High Performance Computing Technology to overcome limitations of AI processing,
Kim Kang Ho