- 본 이전기술은 다중 반사 전파 환경 재현이 가능한 OTA (Over-The_Air) 시험 환경 구현 기술에 관한 것임
- 특히, Sub-THz 대역까지의 무선통신기기 및 무선 서비스에 대한 무선 성능을 시험 평가할 수 있는 시험 장치 설계 기술임
(상세 내용 "기술이전계획서 부속자료" 참조)
- 스마트폰을 포함한 무선통신기기 및 무선서비스는 다양한 서비스들이 혼재하는 환경에서 사용되므로 보다 현실적인 무선통신 성능을 평가하기 위해서는 사용 환경과 유사한 전파 환경에서의 시험이 필요함
- 자유 공간 또는 실제 사용 환경에서의 측정 데이터를 기반으로 무선 통신 성능을 나타내는 다양한 지표들에 대해 분석하여 무선기기에 대한 성능을 평가할 수 있음
- 실제 사용 환경에서의 데이터 측정은 많은 제약 사항과 비용을 수반할 수 있기 때문에 실험실 수준에서 OTA 환경 또는 실 환경과 유사한 전파환경을 구현할 수 있는 기술이 필요함
- 이를 위해서 본 기술이전에서는 무선통신기기의 OTA 성능을 실제 사용 환경과 유사한 공간에서 시험할 수 있는 전자파 잔향실 설계 기술 및 그 구조를 제공함
- 또한, 본 기술이전은 실 환경을 고려한 전파 환경을 구현하여 무선 단말기의 OTA 성능 측정, 불요 전자파에 대한 EMC 평가, 전파 간섭 영향 시험 등과 관련한 시험 기술을 제공함
- 본 기술은 상술한 시험 장치를 구성하기 위한 전자파 잔향실의 고성능화 설계 및 측정 기술임
- 종래의 전자파 잔향실 제품의 성능을 개선할 수 있는 전파 교반 기술 및 장치의 세부 구조 설계안을 제공함
- 일반적인 전자파 잔향실에 적용하여 종래 성능을 개선시킬 수 있는 기술로 본 기술이전에서는 Sub-THz 대역을 지원하는 전자파 잔향실 시험 장치 구현 기술을 포함함
- 기준 전자파 잔향실의 IEC 61000-4-21의 규격인 필드 균일도 성능을 개선하여 측정 불확정도를 저감하여 보다 정확하고 신뢰성 있는 시험 장치 또는 시설을 제공하는 기술임
가. 기술이전의 내용
A. 기술명 : Sub-THz 대역 전자파 잔향실 기술
- Sub-THz 대역 전자파 잔향실 설계 기술
- Sub-THz 대역 전자파 잔향실 설계 구조
- Sub-THz 대역 전자파 잔향실 설계 기술 검증 방법 및 시험 절차
나. 기술이전의 범위
A. 기술명 : Sub-THz 대역 전자파 잔향실 설계 기술
- Sub-THz 대역 전자파 잔향실 설계 기술 요구사항 정의서
- Sub-THz 대역 전자파 잔향실 설계 기술 시험 절차 및 결과서
- Sub-THz 대역 전자파 잔향실 설계 구조 CAD file
- Sub-THz 대역 전자파 잔향실 필드 균일도 계산 spread sheet
- Sub-THz 대역 전자파 잔향실 불요 전자파 간섭 시험 절차 및 측정 결과서
* 이전되는 모든 사항에 대해 온도, 습도 등의 환경 요소에 대한 신뢰성 테스트 결과를 포함하지 않음
- 본 이전 기술을 통해 실제 사용 환경과 유사한 전파환경을 구성할 수 있고 스마트폰과 같은 무선통신기기 및 다양한 무선 서비스의 OTA 성능 시험 평가에 응용할 수 있기에 통신기기, 정보기기, 방송기기, 정보통신 응용기기 등의 산업에 진출이 가능함
- 스마트폰을 포함한 무선기기의 성능 테스트, 스마트팩토리내 무선 서비스 성능 평가, 자율차 레이더 시스템 성능 평가 등의 분야에 적용 가능함
- 무선기기 및 무선통신 서비스의 EMC (Electromagnetic Compatibility) 시험 평가를 위한 시험 장치로 활용이 가능한 효과가 있음
- 실험실 수준에서 간섭 신호와 노이즈가 혼재하는 전파환경을 모사하여 다양한 간섭 영향 시험이 가능하므로 전자파 안전성 평가 또는 스펙트럼 공학 연구 분야에 적용될 수 있는 효과가 있음
- 본 이전 기술의 주요 수요처는 소수의 대기업을 중심으로 한 다수의 중소기업들로 예상되며, 스마트폰 및 유무선 정보통신 개발업체, 자동차 개발업체, EMC를 포함한 전자파 측정 업체들로 일정 수준의 수요처가 확보 가능할 것으로 예상됨
- 본 이전 기술은 실제 무선 채널 환경의 재현 및 제어 응용을 가능케 하므로 실험실 수준에서 다양한 전파환경을 재현하여 무선기기 및 무선 서비스의 현장 성능 테스트를 수행할 수 있는 효과가 있고, 이에 따라 실제 현장 시험에서 소요되는 CAPEX/OPEX 절감 효과가 크다고 할 수 있음
- 본 이전 기술은 2017년과 2022년 ETRI가 개발하여 기술이전을 한 고성능 전자파 잔향실 기술의 상용 제품에 적용하여 시험 정확도 및 신뢰도를 높일 수 있으므로 업그레이드된 제품 생산이 가능할 것으로 기대됨
- 또한, 스웨덴의 Bluetest 사가 선점하고 현재 ETRI의 개발 기술과 경쟁 중인 스마트폰 방사 성능 평가용 전자파 잔향실 시장에서 국내 기업으로의 본 기술이전을 통해 4G, 5G, 6G의 관련 시장에서 기술 경쟁력을 한층 더 높일 수 있을 것으로 기대됨