- 혼합주파수를 이용하여 미량의 자성 나노 입자를 측정하는 Measurement head (MH)의 제어 및 DAQ 기능이 포함된 controller 검출 신호를 확보하는 기능을 수행하는 Controller 제작 기술 및 관련 S/W
- Bulk 분석 및 평면 신호 분석을 위한 시료 삽입구가 (8.0mm~15mm) 까지의 Measurement head 제작 기술 및 추가 MH 설계를 위한 설계 S/W
- 내부 에 장착된 PC를 이용하여 외부의 별도의 PC 연결 없이 독립적으로 동작이 가능하며, 자기장 검출 결과의 표시 및 임베디드 시스템 제어하는 기능을 수행할 수 있는 All in one system
- 임베디드 시스템 장비는 PC와 USB 3.0 인터페이스를 통해 제어 및 데이터 송수신이 가능 하며, PC가 연결이 안된 경우는 독립적으로 동작이 가능한 자체 LCD터치 스크린과 User Interface(UI)를 포함
- Magnetic Head를 제어하기 위해 아날로그와 디지털 신호를 혼합하여 처리하는 기능을 필요로 하며, 높은 자기장에서 발생 가능한 노이즈 처리 등의 전처리 기본 기능이 포함하는 시스템
- 다음의 성능을 가지는 장비 제작에 필요한 기술 자료 및 지적 재산 자료
-
[H/W]
1) Voltage/Current measurement Feature
1.1. Input Power : 100~240 VAC, 50/60Hz
1.2. Power Dissipation : under 20Watt
1.3. Function Generator port x 2
1.3.1. i.Frequency : 1~100 KHz (2019 new version 1~20MHz)
1.3.2. ii.Voltage : -18V~18[V], Volt
1.3.3. iii.Current range : 0 ~ 1[A], Ampere
1.3.4. iv.Channel : 2
1.4. Receiver port x 1
1.4.1. i.Frequency : 1~100 KHz (2019 new version 1~20MHz)
1.4.2. ii.Voltage : -18V~18[V], Volt
1.5. Monitoring(sensing)
1.5.1. i.AC Voltage Monitoring
1.5.1.1. Frequency : 1~100 KHz (2019 new version 1~20MHz)
1.5.1.2. Voltage : -18V~18[V], Volt
1.5.2. ii.AC Current Monitoring
1.5.2.1. Frequency : 1~100 KHz (2019 new version 1~20MHz)
1.5.2.2. Current range : 0 ~ 1[A], Ampere
1.6. X-Y plot
1.6.1. i.X-Y plotting of Generator/receiver
1.6.2.
2. Frequency measurement Feature
2.1. Spectrum analyzing using FFT
2.2. Frequency sweeping
2.3. Impedance(abs(Z)) measurement
2) ADC
Sampling rate: 2*10^6 samples/sec. 이상
A sample bits: 16 bits/sec. 이상
10 Channel
제어 및 데이터 수신: FPGA로 동시 제어 및 수신
3) DAC
Sampling rate: 100*10^6 samples/sec. 이상
A sample bits: 12 bits/sec. 이상
2 Channel
제어 및 데이터 수신: FPGA로 동시 제어 및 수신
4) 기술이전 업체에 제공하는 HW 다지인 파일 : 회로도(Base board, Processror board, driver board) 거버파일 (Base board, Processror board, driver board)